泰克SourceMeter光儀器（源測量單元） 通過 Keithley 儀器，可以輕松構建 LIV（光功率-電流-電壓）系統，從而經濟高效地測試激光二極管模塊。

泰克Keithley2606B高密度儀器源測量單元 2606B 高密度系統SourceMeter （SMU）儀器在1U高的機箱中提供四條20瓦SMU通道。由于制造商需要優化占地空間并減少測試時間和成本，2606B 將密度提高 3 倍、提高吞吐量并盡量減少增加測試設備機架的需求。此SMU為測試激光二極管、LED、2和3端子半導體等生產的理想解決方案。

泰克KeithleySMU2650系列高功率源測量單元 2650 系列大功率 SourceMeter SMU 儀器專為高電壓/電流電子產品和功率半導體元件（例如二極管、FET 和 IGBT、高亮度 LED、直流至直流轉換器、電池、太陽能電池及其他高功率材料、組件、模塊和部件）的檢定和測試而設計。 它們提供大的功率、精度、速度、靈活性和易用性，可提高研發、生產測試和可靠性環境中的效率。

泰克2600B系列SMU源測量單元 Keithley 2600B 系列系統 SMU 儀器是業界標準電流-電壓源和測量解決方案，適用于高度自動化生產測試應用。 雙通道和單通道型號都緊密集成一個精密電源、真正電流源、數字萬用表和具有脈沖生成功能的電子負載。 另外，TSP® 技術可運行完整測試程序，適用于自動化系統應用，TSP-鏈路®技術允許菊花式鏈接多 64 條通道，適用于大容量并行測試。

泰克2601B-PULSE 10 µs源測量單元 System SourceMeter®10 µs 脈沖發生器/源測量單元 （SMU） 儀器將高電流/高速脈沖發生器的功能與傳統 SMU 的測量及全部功能集于一臺儀器中。其優異的 10 A @ 10 V 快達10 μs 脈沖寬度和全 1 MS/s 數字化功能大大地提升了從臺式檢定到高度自動化脈沖式 I-V 生產測試等應用的效率。